【仪器名称】高分辨透射电子显微镜  

【仪器品牌】日本电子株式会社

【仪器型号】JEM 2100F

【购置时间】2008年

【放置地点】C121

【功能特色】

配置场发射电子枪和高分辨极靴。可拍摄无机样品的低倍形貌和高分辨晶格像，用于研究材料微观形貌、结晶状态、晶体缺陷等。还可拍摄样品的电子衍射花样，用于研究材料的结晶状态、晶体结构、晶体学取向等。

【主要技术指标】

加速电压200 kV，点分辨率0.23 nm，线分辨率0.102 nm，放大倍数可调范围´50 -´1500000，样品台倾转角范围X = ±35 °，Y= ± 30°;配置Gatan 832相机，相机尺寸4 ´ 2.7 K (1100万像素)，提供高清电子照片。

【仪器图片】